I SEM cominciarono a essere usati su larga scala negli anni ’60.
Sono utilizzati per studiare oggetti tridimensionali.
Gli elettroni rimbalzano sulla superficie di un oggetto invece di passare attraverso di esso.
Muovendo il campione, l’operatore può costruire un’immagine dettagliata della sua struttura superficiale – un po’ come le immagini aeree della terra.
MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE [SEM]

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